Ziel des Vorhabens war der Aufbau und die Erprobung eines Spektrometer-Messstands für den Einsatz bei Messungen mit ultrakurzen Laserpulsen. Mit dem Spektrometer soll es möglich werden, photovoltaisch relevante Halbleiter-Mehrschichtsystemen und insbesondere Perowskit-Halbleiterschichten mittels Ultrakurzpuls-Laser-Spektroskopie zu untersuchen. Nach der Anregung des zu untersuchenden Materials mit einem ultrakurzen Laserpuls wird das Material Licht aussenden. Je nach Anregungsintensität der ultrakurzen Laserpulse kann das ausgesandte Licht Photolumineszenz oder Plasmalumineszenz sein. Dabei enthalten diese beiden Lumineszenzarten wertvolle und unterschiedliche Informationen über das Material. Da die Signale äußerst schwach sind, bedarf es einer extrem empfindlichen Mess-Methode, um die Strahlung zu detektieren. Daraus lässt sich zum Beispiel ableiten, an welchem Ort und in welcher Tiefe welche Elemente zu finden sind. Oder e lassen sich Störstellen identifizieren, und die damit verbundenen Rekombinationsprozesse charakterisieren. Diese Informationen sind insbesondere für die aus mehreren Schichten aufgebauten Dünnschicht-Solarzellen interessant. Aber auch für Elektroden in Batterien oder Elektrolysesystemen kann diese Kenntnis wertvoll sein.

• Prof. Dr. Andreas Bartelt (Projektleitung)

Hochschule für Technik und Wirtschaft (HTW) Berlin

• Freie Universität Berlin

Kommission für Forschung und wissenschaftlichen Nachwuchs (FNK)