Component Test – Test Strategies with Asset Administration Shells

Konferenzbeitrag › Konferenzpaper › 2023

Zitation

Schäfer, Stephan; Schöttke, Dirk; Kämpfe, Thomas; Denkov, Vasil; Zielstorff, Aaron: Component Test – Test Strategies with Asset Administration Shells. In: 2023 IEEE 32nd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE). Helsinki, Finnland: 2023, S. 1-7.

ISSN

2163-5145

ISBN

979-8-3503-9971-4

DOI / URN

10.1109/ISIE51358.2023.10228026

Link

https://ieeexplore.ieee.org/document/10228026

Sprache

Englisch

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