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Photoconductivity analysis of ultrathin a-Si:H layers and Si/SiO2 quantum well structures Veranstaltungsbeitrag › Posterpräsentation › 2009 Veranstaltung 23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors (ICANS23) Utrecht, The Netherlands, 23.08.2009 - 28.08.2009 Ergänzende Angaben Poster M. Schmidt, T.F. Schulze, A. Schoepke, B. Stegemann Homepage